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離子遷移試驗裝置(CAF)
導通電阻試驗裝置(RTM)
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你知道影響離子遷移的因素有哪些么?
什么是離子遷移測試?或許看完本派你就知道了
看完本篇你就知道CAF測試是如何進行的了
高加速壽命試驗箱需滿足這些要求才能進行試驗
離子遷移測試的目的你知道是是什么嗎?
離子遷移現象的捕捉
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>離子遷移試驗裝置(CAF)
HVUα_3000V離子遷移試驗裝置
離子遷移試驗裝置是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), , 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ), , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗。
更新時間:
2024-04-15
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716
型號:
HVUα_3000V
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ECM-100離子遷移測試裝置
ECM-100離子遷移測試裝置是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION )。
更新時間:
2024-04-15
訪問量:
2912
型號:
ECM-100
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HVUα_3000V3000V離子遷移試驗裝置
3000V離子遷移試驗裝置是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ), 并記錄電阻值變化狀況。在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。$n適用規格 : JPCA- - ET01-
更新時間:
2024-04-15
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829
型號:
HVUα_3000V
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2000V離子遷移實驗裝置
2000V離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ),并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
更新時間:
2024-04-15
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1574
型號:
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HVUα_1000V1000V離子遷移實驗裝置
1000V離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), , 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ), , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
更新時間:
2024-04-15
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740
型號:
HVUα_1000V
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日本J-RAS 500V離子遷移實驗裝置
日本J-RAS 500V離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), , 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ), , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
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2024-04-15
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