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        產品展示首頁 > 產品展示 > 日本J-RAS > 離子遷移試驗裝置（CAF） > 2000V離子遷移實驗裝置
            
              
        
               
        
      
        
          
            
         
                
        
            
                    
        
                        
                        
        
                             
                            
        
                            
                            
        
                           
                        
        
                        
        
                            
                            
        
                                
          
                                
                                    
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        2000V離子遷移實驗裝置
        
                    
        簡要描述：2000V離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ），經過長時間的測試（1 ～1000  小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生（ ION MIGRATION ），并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
        
                    
          
                        
        • 更新時間：2022-08-11
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        • 訪  問  量：1553
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        • 廠商性質：生產廠家
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        • 產品型號：
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                        產品咨詢聯系我們
                    
        
                
        
                
        
            
        
            
      
        


         

        
		
	   
		   
        
			
        	
			 

                
        
                	
                    
        
                        
                            
                                
        品牌其他品牌產地進口
        加工定制是 
        
                            
                                
                    
        
                
        高電圧絶縁計測＋100n秒以下の高速イベント収録
        高電圧絶縁信頼性試験裝置　HVUαシリーズ
        HVUα本體
        製品の特?
              
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          100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出(抵抗値データと同時計測も可能)
              
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          CH個別電源搭載&CH個別フィードバックで各サンプルに安定した電圧印加
              
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          CH個別電源搭載&CH個別制御で全CHに異なる印加電圧設定が可能
              
          •     
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          機械式リレーによるスキャンが無いので連続試験中の故障やトラブル無し
              
          •     
        •     
          短絡検出回路のCH個別搭載で瞬間的なサンプル短絡にも追従
              
          •     
        •     
          トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計測を実現(計測側)
              
          •     
        •     
          専用ソフトウェアによりグラフ表示やデータ収録可能
              
          •     
        •     
          5チャンネル単位で需要に応じてシステム構成可能
              
        用途
        ?電圧デバイスの絶縁信頼性評価、パワーモジュールの連続耐圧評価、プリント基板の耐マイグレーション性能評価、その他?電圧部品の絶縁信頼性評価。
              
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          メイン畫面
              
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          テキストデータ畫面
              
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        対応OS：WindowsXp、7、8、10
         
         
			 
        
		
	



        

        
	
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                請輸入計算結果（填寫阿拉伯數字），如：三加四=7
            
          
		
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