熱阻測試儀

Phase12 熱阻測試儀產自美國 Analysis Tech(Anatech)公司，符合美軍標和 JEDEC 標準.

       Analysis Tech Inc.成立于 1983 年，坐落于波士頓北部，是電子封裝器件可靠性測試的國際設計，制造公司。創始人 John W.Sofia 是美國麻省理工的博士，并且是提出焊點可靠性,熱阻分析和熱導率理論的專家. 發表了很多關于熱阻測試于分析，熱導率及焊點可靠性方面的論文. Analysis Tech Inc.在美國有獨立的實驗室提供技術支持. 

       主要用于測試二極管，三極管，線形調壓器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ,IGBT，IC 等分立功率器件的熱阻測試及分析。

PHASEI2 熱阻測試儀可以測試Rja，Rjc，Rjb Rjl 的熱阻（測試原理符合JEDEC51-1定義的動態及靜態測試方法)

Phascl2測試來的數據，將產生上圖。左上角的數字說明這個器件有四個層次（為了可以清楚的了解不同層次，可以將這個圖轉換成圖三)。其中第一個是芯片下的粘接層的阻抗值，后面Tau是完成的測試時間，四個層次的阻抗值之和就是這個器件的熱阻值。并且每一個拐點都表明熱進入了一個新的層次。每個層次的數據將表明這個器件不同層向外散熱的好壞，對不同廠家同類產品而言，可以讓我們選擇熱阻值非常好的廠家;同時它也可以檢測同一廠家，同類產品，不同批次質量的差異，從而評測出該廠家生產工藝的穩定性。