J-RAS代理離子遷移試驗裝置 CAF測試，ECM-100是可以單獨試驗的ALL-IN-ONE檢測系統，并且重要的試驗數據被保存到CF存儲卡。作為系統構成我們準備了40CH/100CH型，可以根據您的預算、設置空間來進行選擇。

離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生（ ION MIGRATION ）, 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。日本J-RAS絕緣劣化試驗

導通電阻試驗裝置 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。

離子遷移試驗裝置是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, , 經過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生（ ION MIGRATION ）, , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗。

離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, , 經過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生（ ION MIGRATION ）, , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。（ ION MIGRATION TEST......

離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, , 經過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生（ ION MIGRATION ）, , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。（ ION MIGRATION TEST......